
熒光光譜測試儀又稱分光儀,廣泛為認知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個入射狹縫,一個色散系統(tǒng),一個成像系統(tǒng)和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。
標準配置:
1. 原裝電致冷Si-PINtanceqi
2. X射線光管模塊
3. 高低壓電源模塊
4. 多道分析模塊
5. 信噪比增強模塊
6. 集成IPAD觸摸屏
7. RoHS鹵素軟件系統(tǒng)
一臺典型的光譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統(tǒng)組成。包括以下幾個主要部分:
1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點。
2. 準直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄?。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上,如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。
3. 色散元件: 通常采用光柵,使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。
4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像,其中每一像點對應(yīng)于一特定波長。
5. 探測器陣列:放置于焦平面,用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。
熒光光譜測試儀技術(shù)參數(shù):
|              測試范圍  |                          RoHS, 鹵素(硫S-鈾U之間的元素)  |         
|              可測試樣品的種類  |                          固體,液體,粉末  |         
|              檢出限  |                          ≤2ppm;精度:±0.05%  |         
|              測試時間  |                          30-300s(可以任意調(diào)節(jié))  |         
|              攝像定位系統(tǒng)  |                          800萬真像素高清定位系統(tǒng)  |         
|              X射線光管使用壽命  |                          >20000小時  |         
|              探測器  |                          Amptek公司原裝電致冷Si-PIN探測器; 分辨率 145ev±5ev  |         
|              高壓電源  |                          0-50kev,0-2mA 50w  |         
|              準直濾光系統(tǒng)  |                          X射線光斑大小直徑:φ1mm,φ3mm,φ5mm; 9種復(fù)合濾光系統(tǒng)  |         
|              工作環(huán)境溫/濕度  |                          溫度15-30℃ 濕度 ≤75%(不結(jié)露)  |         
|              輸入電源  |                          AC220V±15% 50Hz  |         
|              額定功率  |                          150W 重量 33kg  |         
|              儀器尺寸  |                          670*400*330mm  |         
|              測試樣品腔尺寸  |                          200*260*80mm  |         
專業(yè)RoHS指令有害元素和鹵素快速,無損檢測;一體機設(shè)計,內(nèi)置工業(yè)計算機和IPAD觸摸屏,無需另配電腦和顯示器。
產(chǎn)品圖片